Photovoltaik-Produktion: Basler präsentiert industrieerprobte Dünnschicht-Inspektionssysteme auf der 25. EU PVSEC in Valencia

20.08.2010 / Archiv / Photovoltaik

Basler Vision Technologies (Ahrensburg) wird sein Hochleistungs-Inline-Dünnschicht-Inspektionssystem SENSIC auf der nächsten EU PVSEC ausstellen. Die Messe wird vom 6.-9. September 2010 in der Feria Valencia, Spanien, stattfinden. Getreu dem Motto "Increase Your Yield" wird Basler seine vollautomatisierten Lösungen vorstellen, die perfekt auf die Qualitätskontrolle von Front- und Rückgläsern, den Beschichtungsprozess sowie die Kontrolle der Laminierung zugeschnitten seien. Mit einer 100% Abtastung der Oberfläche erkenne das Inspektionssystem verlässlich Fehler wie Ausmuschelungen oder Risse in den Kanten, Einschlüsse, Blasen und Beschichtungsfehler.

Neben einer schnellen und einfachen Installation der Systeme erhalten Photovoltaik-Hersteller durch die Integration in die Prozesskette der Fabrik direkte Rückmeldung über die einzelnen Prozessschritte sofort während der Herstellung und rund um die Uhr. Die Basler Sensic Inline-Systeme haben sich laut Anbieter weltweit als ein Werkzeug zur Optimierung der Herstellungsverfahren bei vielen Produzenten von Dünnschicht-Produkten erwiesen.
"Wir hoffen, viele bereits bestehende Kunden auf der Messe zu treffen, und freuen uns auch auf die Möglichkeit, mit vielen neuen Kontakten Gespräche zu führen", sagt Ulrich Kyas, Marketing Manager Basler Surface Inspection. "Wir glauben, dass wir Ihnen das beste Preis-/Leistungsverhältnis der Industrie bieten können, und Ihnen so helfen, Ihre Herstellungskosten deutlich zu senken und als Folge davon Ihren Gewinn zu steigern." Metrologie-Lösungen von Basler gibt es für verschiedene Dünnschicht-Verfahren wie a-Si/µc-Si, CaTe und CIS/CIGS.
Basler auf der 25. EU PVSEC: Stand B1 in Halle 3, Ebene 2